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半導(dǎo)體檢測(cè)

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檢測(cè)領(lǐng)域之半導(dǎo)體檢測(cè):國(guó)產(chǎn)替代浪潮下的守護(hù)者

檢測(cè)分析貫穿半導(dǎo)體全鏈條,為產(chǎn)品質(zhì)量護(hù)航檢測(cè)分析伴生于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的各個(gè)環(huán)節(jié)(芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試、原材料制備、生產(chǎn)設(shè)備制備等),檢測(cè)分析的主要類別包括失效分析(FA)、材料分析(MA)、可靠性分析(RA),有助于加速半導(dǎo)體新品研發(fā)進(jìn)程、提升產(chǎn)品性能和良品率、提高經(jīng)營(yíng)效率與節(jié)約成本費(fèi)用。

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